Application de la tomographie X et de la simulation FFT à l’analyse de l’endommagement de tubes composites SiC/SiC - École des Ponts ParisTech
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Application de la tomographie X et de la simulation FFT à l’analyse de l’endommagement de tubes composites SiC/SiC

Yang Chen
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1017454
Service des Recherches Métallurgiques Appliquées
Laboratoire Navier
Lionel Gélébart
Service des Recherches Métallurgiques Appliquées
Camille Chateau
Laboratoire Navier
CV
Michel Bornert
Laboratoire Navier
Andrew King
Synchrotron SOLEIL
Cédric Sauder
  • Fonction : Auteur
Service des Recherches Métallurgiques Appliquées

Domaines

Mécanique des matériaux [physics.class-ph]

Camille Chateau  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://enpc.hal.science/hal-01629699

Soumis le : lundi 6 novembre 2017-16:42:22

Dernière modification le : jeudi 19 décembre 2024-16:50:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01629699 , version 1 (06-11-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01629699 , version 1

Citer

Yang Chen, Lionel Gélébart, Camille Chateau, Michel Bornert, Andrew King, et al.. Application de la tomographie X et de la simulation FFT à l’analyse de l’endommagement de tubes composites SiC/SiC. 3èmes Journées des Matériaux Numériques, Feb 2017, Tours, France. ⟨hal-01629699⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CEA ENPC CNRS UR-NAVIER PARISTECH IFSTTAR DEN CEA-UPSAY UNIV-PARIS-SACLAY SYNCHROTRON-SOLEIL GS-ENGINEERING GS-PHYSIQUE INSTITUT-SCIENCES-LUMIERE UNIV-EIFFEL ISAS
211 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More