Application de la tomographie X et de la simulation FFT à l’analyse de l’endommagement de tubes composites SiC/SiC - École des Ponts ParisTech Access content directly
Conference Papers Year : 2016

Application de la tomographie X et de la simulation FFT à l’analyse de l’endommagement de tubes composites SiC/SiC

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Dates and versions

hal-01629666 , version 1 (06-11-2017)

Identifiers

  • HAL Id : hal-01629666 , version 1

Cite

Yang Chen, Lionel Gélébart, Franck Ouaki, Julien Derouillat, Camille Chateau, et al.. Application de la tomographie X et de la simulation FFT à l’analyse de l’endommagement de tubes composites SiC/SiC. Colloque Matériaux et grands instruments & Matériaux numériques - Analyses in situ : Expériences/Modélisation, Sep 2016, Paris, France. ⟨hal-01629666⟩
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